| Исследование образцов в полированных шлифах, аншлифах, отдельных зернах, фрагментах зерен на сканирующем электронном микроскопе TESCAN VEGA |
1
|
ЭКСПРЕСС исследование образцов в полированных шлифах, аншлифах, отдельных зернах, фрагментах зерен включает:
|
1 проба |
| 1.1. |
Напыление углерода на препараты методом термического распыления в вакууме с использованием установки Q150R plus |
| 1.2 |
Закрепление препарата на исследовательском столике микроскопа (заземление, углеродный скотч) |
| 1.3 |
Поиск конкретной области исследования |
| 1.4 |
Получение электронного изображения во вторичных электронах (SE детектор) |
| 1.5 |
Получение электронного изображения в обратно-отраженных электронах (LE 4Q-BSE детектор) |
| 1.6 |
Рентгеноспектральный микроанализ в точке, области (с проверкой резулльтатов) до 5 точек съемки спектра |
| 1.7 |
Элементное картирование одной произвольной области исследования (построение суммарной карты и монокарт распределения химических элементов) и замер 5-10 спектров |
| 1.8 |
Выгрузка отчета (фото, данные спектров, таблицей формата .xsl с результатами рентгеноспектрального микроанализа) |
| 1.9 |
Дополнительно по требованию заказчика |
| 1.9.1 |
Проведение замеров зерен в пределах полученного электронного изображения (линейный размер, угол, обводка областей). |
1 проба |
| 1.9.2 |
Подпись названия точки по результатам рентеноспектрального микроанализа |
1 проба |
| 2 |
ПОЛНОЕ (КОМПЛЕКСНОЕ) исследование образцов в полированных шлифах, аншлифах, отдельных зернах, фрагментах зерен включает: |
1 проба |
| 2.1 |
Напыление углерода на препараты методом термического распыления в вакууме с использованием установки Q150R plus |
| 2.2 |
Закрепление препарата на исследовательском столике микроскопа (заземление, углеродный скотч) |
| 2.3 |
Поиск конкретной области исследования |
| 2.4 |
Получение электронного изображения во вторичных электронах (SE детектор) |
| 2.5 |
Получение электронного изображения в обратно-отраженных электронах (LE 4Q-BSE детектор) |
| 2.6 |
Рентгеноспектральный микроанализ в точке, области (с проверкой резулльтатов) до 20 точек съемки спектра |
| 2.7 |
Элементное картирование области исследования (построение суммарной карты и монокарт распределения химических элементов). Полный поиск конкретных минеральных видов и областей для анализа, определение состава минерала |
| 2.8 |
Подпись названия точки по результатам рентеноспектрального микроанализа (по требованию заказчика) |
| 2.9 |
Проведение замеров зерен в пределах полученного электронного изображения (линейный размер, угол, обводка областей). |
| 2.10 |
Выгрузка отчета (фото, данные спектров, таблицей формата .xsl с результатами рентгеноспектрального микроанализа) |
| 3 |
Работа с оператором (при 4 часовой смене) |
1 смена |
| Работа с оператором (при 6 часовой смене) |
1 смена |
| Исследование геологических и производственных порошковых проб на атомно-эмиссионном комплексе «Гранд-Поток» |
| 1 |
ЭКСПРЕСС полуколичественный анализ геологических и производственных порошковых проб сложного состава с низким содержанием рассеянных элементов, цветных, редкоземельных и благородных металлов в соответствии с нормативной документацией на методики выполнения измерений (МВИ) |
1 проба |
| 1.1 |
Подготовка, маркировка проб |
| 1.2 |
Проведение замеров по 2 параллелям полуколичественного анализа |
| 1.3 |
Оформление результатов без эталонирования |
| 2 |
КОМПЛЕКСНОЕ исследование, проведение полного полуколичественного анализа геологических и производственных порошковых проб сложного состава с низким содержанием рассеянных элементов, цветных, редкоземельных и благородных металлов, в т.ч. для определения золота с пределом обнаружения 0,1 г/т в соответствии с нормативной документацией на методики выполнения измерений (МВИ) |
1 проба |
| 2.1 |
Подготовка, маркировка пробы |
|
| 2.2 |
Проведение замеров от 2 до 6 параллелей полуколичественного анализа |
|
| 2.3 |
Оформление результатов с эталонированием |
|
| 3 |
Работа (обучение) с оператором (при 4 часовой смене) |
1 смена |
| Работа (обучение) с оператором (при 6 часовой смене) |
1 смена |
| Визуализация структурно-текстурных особенностей материала как органического, так и неорганического происхождения на сканирующем электронном микроскопе TESCAN VEGA |
| 1.1 |
Напыление углерода на препараты методом термического распыления в вакууме с использованием установки Q150R plus |
1 объект (проба) |
| 1.2 |
Закрепление препарата на исследовательском столике микроскопа (заземление, углеродный скотч) |
| 1.3 |
Поиск конкретной области исследования |
| 1.4 |
Получение электронного изображения во вторичных электронах (SE детектор) при низком вакууме |
| 1.5 |
Получение электронного изображения в обратно-отраженных электронах (LE 4Q-BSE детектор) при низком вакууме |
| Визуализация структурно-текстурных особенностей материала как органического, так и неорганического происхождения наоптическом микроскопе Olympus BX61 |
| 1.1 |
Фотографии шлифов, каменного материала и порошковых продуктов (цветное фото формата А4) |
1 цветная фотография |
| Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ поликристаллических материалов в виде порошков и твердых образцов на рентгеновском дифрактометре ADANI PowDiX 600 |
| 1.1 |
Подготовка пробы к исследованию |
1 проба |
| 1.2 |
Расшифровка и обработка полученных результатов, определение минерального состава |
| Минералогические исследования горных пород. Оптико-геометрический анализ образцов, представляющих микроструктуру руды, ее основных минеральных комплексов и продуктов обогащения. Оптический микроскоп Olympus BX61 для рудной микроскопии с программным комплексом «МинералС7» |
| 1.1 |
Проведение минералогического анализа |
1 проба |
| 1.2 |
Расшифровка и обработка полученных результатов, определение минерального состава |
|
| Изготовление прозрачных и приполированных шлифов на лапинговом станке BAINTHIN –GEO |
| 1.1 |
Изготовление прозрачных шлифов |
1 шлиф |
| 1.2 |
Изготовление приполированных шлифов |
1 шлиф |
| Подготовка минералогических проб. Вакуумная система для холодной заливки образцов ThetaVac-2 |
| 1.1 |
Подготовка минералогических проб |
1 проба
|
